隨鉆方位密度測(cè)井?dāng)?shù)據(jù)處理與解釋
定 價(jià):49.8 元
- 作者:張麗,孫建孟,高衛(wèi)富著
- 出版時(shí)間:2020/6/1
- ISBN:9787122355423
- 出 版 社:化學(xué)工業(yè)出版社
- 中圖法分類(lèi):TE242
- 頁(yè)碼:172頁(yè):圖;24cm
- 紙張:
- 版次:1
- 開(kāi)本:16K
本書(shū)系統(tǒng)介紹了如何根據(jù)隨鉆方位密度測(cè)井技術(shù)獲取的譜數(shù)據(jù)得到地層的密度信息,進(jìn)而進(jìn)行密度成像,用于各種地質(zhì)解釋。
隨著石油勘探開(kāi)發(fā)的逐步深入,大斜度井、水平井開(kāi)發(fā)成為鉆井施工的主要內(nèi)容。與直井相比,大斜度井、水平井的井眼狀況更為復(fù)雜,測(cè)井影響因素更加繁雜,所需鉆井和地質(zhì)導(dǎo)向技術(shù)更加精細(xì)。隨鉆測(cè)井技術(shù)的發(fā)展,有效彌補(bǔ)了常規(guī)電纜測(cè)井難以解決的地質(zhì)導(dǎo)向、實(shí)時(shí)跟蹤井眼軌跡等問(wèn)題,在隨鉆地質(zhì)導(dǎo)向和地層評(píng)價(jià)中起著關(guān)鍵作用。隨鉆測(cè)井通過(guò)在鉆井過(guò)程中的實(shí)時(shí)測(cè)量,最大限度地克服了井眼垮塌、泥漿侵入、儲(chǔ)層污染等對(duì)測(cè)井響應(yīng)的影響,更加真實(shí)地逼近地層環(huán)境,為油氣藏精細(xì)描述提供了準(zhǔn)確的數(shù)據(jù)支持。此外,隨鉆測(cè)井能根據(jù)鉆井情況實(shí)時(shí)調(diào)整鉆井方位和速率,對(duì)減少井噴等鉆井事故,提高鉆井和油氣田勘探開(kāi)發(fā)速率具有重要意義。
封面
版權(quán)信息
前言
第一章 緒論
第一節(jié) 核物理基礎(chǔ)
一、放射性
二、γ射線與物質(zhì)的相互作用
第二節(jié) 密度測(cè)井
一、密度測(cè)井原理
二、隨鉆方位密度測(cè)井原理
第三節(jié) 隨鉆密度測(cè)井的發(fā)展
一、密度測(cè)井儀研究進(jìn)展
二、方位密度應(yīng)用研究進(jìn)展
第二章 隨鉆方位密度測(cè)井蒙特卡羅模擬
第一節(jié) 蒙特卡羅方法簡(jiǎn)介
第二節(jié) 儀器模型構(gòu)建
一、模型描述
二、模型構(gòu)建
第三節(jié) 能窗劃分方法
一、劃分依據(jù)
二、不同泥漿條件下探測(cè)器能窗劃分
三、儀器能窗的確定
第四節(jié) 儀器探測(cè)特性研究
一、不同井斜角下幾何因子
二、探測(cè)特性分析
第三章 譜數(shù)據(jù)處理及刻度方法
第一節(jié) 譜數(shù)據(jù)處理軟件
第二節(jié) 譜數(shù)據(jù)處理方法
一、譜數(shù)據(jù)平滑、濾波
二、譜數(shù)據(jù)尋峰
三、譜數(shù)據(jù)能量刻度
四、本底扣除及死時(shí)間校正
第三節(jié) 刻度方法研究
一、一級(jí)刻度
二、二級(jí)刻度
三、密度和巖性指數(shù)Pe計(jì)算
第四節(jié) 譜數(shù)據(jù)處理方法驗(yàn)證
第四章 隨鉆方位密度影響因素分析及校正
第一節(jié) 方位密度敏感性分析
一、方位密度敏感性模擬
二、密度值差下方位密度敏感性分析
第二節(jié) 井眼因素影響及校正
一、井徑和間隙影響因素的模擬
二、井徑和間隙校正
第三節(jié) 不同井斜角下層厚的影響及校正
一、不同井斜角下層厚影響因素的模擬
二、不同井斜角下層厚影響的校正
第五章 隨鉆方位密度成像測(cè)井應(yīng)用研究
第一節(jié) 方位密度成像方法
一、數(shù)據(jù)預(yù)處理
二、圖像色度標(biāo)定
三、圖像生成與顯示
四、圖像插值技術(shù)
五、圖像處理方法
六、密度圖像實(shí)例
第二節(jié) 方位密度圖像的應(yīng)用
一、識(shí)別地層界面
二、求取地層傾角
三、實(shí)時(shí)地質(zhì)導(dǎo)向
第六章 隨鉆脈沖中子源密度測(cè)井技術(shù)發(fā)展
第一節(jié) 脈沖中子源密度測(cè)井基礎(chǔ)
第二節(jié) 脈沖中子源密度測(cè)井原理
第三節(jié) D-D中子源密度測(cè)量研究
參考文獻(xiàn)
一、密度測(cè)井儀研究進(jìn)展
20世紀(jì)50年代以后,密度測(cè)井方法逐漸發(fā)展起來(lái),由最初的單探測(cè)器測(cè)量經(jīng)地層反射后的γ射線發(fā)展為雙探測(cè)器的測(cè)井模式,使得測(cè)量結(jié)果受井徑、井眼泥漿、井壁狀況與間隙影響的情況得到了很大的改善。后來(lái),多家石油公司提出了三探測(cè)器密度儀器,在正源距處加入了一個(gè)中間探測(cè)器,可以對(duì)薄層的影響進(jìn)行校正,從而提高了巖性指數(shù)的測(cè)量準(zhǔn)確性。但是由于實(shí)際的儀器設(shè)計(jì)復(fù)雜、成本過(guò)高,此產(chǎn)品沒(méi)有得到普及使用。雙源距的密度測(cè)井儀器主要是利用γ射線與地層物質(zhì)作用的康普頓效應(yīng)獲取近、遠(yuǎn)探測(cè)器的計(jì)數(shù)率,采用“脊肋圖”補(bǔ)償井眼的影響,進(jìn)而準(zhǔn)確獲取地層密度。改進(jìn)后的儀器,又增加了光電效應(yīng)近、遠(yuǎn)探測(cè)器的計(jì)數(shù)率來(lái)獲取地層的巖性信息,發(fā)展為巖性密度測(cè)井;隨著技術(shù)的進(jìn)步,后來(lái)出現(xiàn)了伽馬能譜巖性密度測(cè)井。雖然在儀器的結(jié)構(gòu)上有很大改進(jìn),但是測(cè)量原理上沒(méi)有本質(zhì)差別。
20世紀(jì)70年代,TELEO公司首次推出了商業(yè)化的LWD儀器,這標(biāo)志著隨鉆測(cè)井技術(shù)進(jìn)入了快速發(fā)展時(shí)期。到了20世紀(jì)80年代的中后期,國(guó)外的各大石油公司也相繼推出了各種類(lèi)型的隨鉆密度測(cè)井儀器,比較有代表性的有以下幾種。
1989年,Schlumberger公司推出一種補(bǔ)償密度-中子孔隙度隨鉆測(cè)井儀(CDN),該儀器最顯著的特點(diǎn)是采用全井徑穩(wěn)定器減小井眼對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響,主要由兩部分組成,補(bǔ)償中子系統(tǒng)和補(bǔ)償?shù)貙用芏认到y(tǒng),將其置于無(wú)磁鉆鋌中,完成密度和孔隙度的測(cè)量。
1993年,哈里伯頓的Sperry
Sun公司研發(fā)了一種新型的隨鉆密度測(cè)井儀(SLD),最大的改進(jìn)之處是對(duì)1in的間隙進(jìn)行密度校正,這就需要采用全井徑穩(wěn)定器,保證儀器測(cè)量時(shí)必須偏心置于井中,在測(cè)量過(guò)程中能達(dá)到最小間隙,同時(shí)該儀器還采用2Ci的137Cs源和兩個(gè)NaI閃爍探測(cè)器,測(cè)量過(guò)程中主要受到井眼和地層兩方面的影響,包括井眼形狀、泥漿類(lèi)型和地層等因素。