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光學測量技術

光學測量技術

定  價:28 元

        

  • 作者:方欽志著,方欽志,徐志敏編
  • 出版時間:2022/3/1
  • ISBN:9787569323634
  • 出 版 社:西安交通大學出版社
  • 中圖法分類:TB96 
  • 頁碼:155
  • 紙張:
  • 版次:1
  • 開本:16開
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本教材主要內(nèi)容如下。
第1章主要介紹了常用的光學基本知識,包括偏振光基本特性,光的折射、反射以及干涉現(xiàn)象,同時還介紹了二色性晶體等光學元件的特性。
第2章和第3章重點介紹了光彈性法測量應力的基本原理,等差線、等傾線圖及其特性,以及如何利用得到的等差線、等傾線圖提取構件應力。根據(jù)作者多年的教學研究成果,本書中首次給出了以光強法為基礎的等差線和等傾線參數(shù)的提取方法。
第4章簡單介紹了光彈性貼片法,以使學生能夠利用平面光彈性的基本知識解決構件表面應力應變的測試問題。
第5章介紹了散射光彈性方法。盡管散射光彈性方法對測試環(huán)境要求較高,但該方法在測量模型內(nèi)部三維應力方面有其獨特的優(yōu)點。
第6章介紹了全息光彈性方法的測試技術。該方法不但可以獲得等傾線和等差線圖,還可以獲得等程線和等和線圖,解決了普通光彈性方法不易進行應力分離的問題,并且精度也有較大提高。
第7章介紹了如何利用全息照相技術進行物體表面三維位移測量的技術。
第8章主要介紹了利用云紋柵進行表面變形的云紋測試技術,除了講解傳統(tǒng)的云紋方法之外,作者根據(jù)自己的教學研究成果,首次提出了數(shù)碼云紋的概念。
第9章簡單介紹了激光散斑測試技術。
第10章作者在自己的研究成果的基礎上,結合文獻及其它教材,重點介紹了利用人工散斑進行物體表面位移場測量的圖像相關分析法,以及在此基礎上發(fā)展起來的雙鏡頭和單鏡頭三維位移場測量技術。
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