第1篇 實(shí)驗(yàn)基礎(chǔ)知識(shí)
1 模擬電子電路實(shí)驗(yàn)基礎(chǔ)知識(shí)
1.1 模擬電子電路實(shí)驗(yàn)的意義、目的和要求
1.1.1 模擬電子電路實(shí)驗(yàn)課的意義
1.1.2 模擬電子電路實(shí)驗(yàn)課的特點(diǎn)和學(xué)習(xí)方法
1.1.3 模擬電子電路實(shí)驗(yàn)課教學(xué)目的
1.1.4 模擬電子電路實(shí)驗(yàn)的一般要求
1.2 模擬電子電路實(shí)驗(yàn)方法
1.2.1 模擬電子電路實(shí)驗(yàn)規(guī)則
1.2.2 電路調(diào)試中應(yīng)注意的問(wèn)題
1.2.3 查找和排除故障的～一般方法
1.3 實(shí)驗(yàn)室的安全操作規(guī)則
1.3.1 實(shí)驗(yàn)室安全注意事項(xiàng)
1.3.2 實(shí)驗(yàn)室儀器使用注意事項(xiàng)
1.4 實(shí)驗(yàn)室用工具和材料
1.4.1 主要工具
1.4.2 主要材料
I.4.3 輔助工具

2 基本測(cè)量技術(shù)
2.1 概述
2.1.1 測(cè)量方法的分類(lèi)
2.1.2 選擇測(cè)量方法的原則
2.2 電壓測(cè)量
2.2.1 電壓測(cè)量的特點(diǎn)
2.2.2 高內(nèi)阻回路直流電壓的測(cè)量
2.2.3 交流電壓的測(cè)量
2.2.4 電壓測(cè)量的數(shù)字化方法
2.3 阻抗測(cè)量
2.3.1 輸入電阻的測(cè)量
232輸出電阻的測(cè)量
2.4 增益及幅頻特性測(cè)量
2.5 誤差分析和數(shù)據(jù)處理
2.5.1 測(cè)量誤差的表示方法
2.5.2 誤差的來(lái)源
2.5.3 誤差的分類(lèi)
2.6 測(cè)量數(shù)據(jù)處理
2.6.1 測(cè)量數(shù)據(jù)的采集
2.6.2 實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)的處理

3 常用電子元器件基礎(chǔ)知識(shí)
3.1 半導(dǎo)體分立器件型號(hào)命名法
3.2 晶體二極管
3.2.1 晶體二極管的分類(lèi)和圖形符號(hào)
3.2.2 晶體二極管的主要技術(shù)參數(shù)
3.2.3 常用晶體二極管
3.2.4 晶體二極管使用注意事項(xiàng)
3.2.5 晶體二極管的變通運(yùn)用
3.3 晶體三極管
3.3.1 晶體三極管的分類(lèi)和圖形符號(hào)
3.3.2 晶體三極管的主要技術(shù)參數(shù)
3.3.3 常用晶體三極管的主要參數(shù)
3.3.4 晶體三極管使用注意事項(xiàng)
3.4 場(chǎng)效應(yīng)晶體管
3.4.1 場(chǎng)效應(yīng)晶體管的特點(diǎn)
3.4.2 場(chǎng)效應(yīng)晶體管的分類(lèi)和圖形符號(hào)
3.4.3 場(chǎng)效應(yīng)晶體管主要技術(shù)參數(shù)
3.4.4 常用場(chǎng)效應(yīng)晶體管的主要參數(shù)
3.4.5 場(chǎng)效應(yīng)晶體管的測(cè)量
3.4.6 場(chǎng)效應(yīng)晶體管使用注意事項(xiàng)
3.5 半導(dǎo)體模擬集成電路
3.5.1 模擬集成電路基礎(chǔ)知識(shí)
3.5.2 集成運(yùn)算放大器
3.5.3 集成穩(wěn)壓器
354集成功率放大器
3.5.5 集成器件的測(cè)試

第2篇 基礎(chǔ)型（驗(yàn)證性）實(shí)驗(yàn)
4 模擬電子電路基礎(chǔ)實(shí)驗(yàn)
4.1 常用儀器的使用
4.1.1 實(shí)驗(yàn)?zāi)康?br>4.1.2 實(shí)驗(yàn)儀器儀表和器材
……
第3篇 提高型（設(shè)計(jì)性）實(shí)驗(yàn)
參考文獻(xiàn)