結構與性能之間的關系是材料科學與工程領域的關鍵話題之一。要理解為什么一種材料能夠展現出某種性能，首先是分析其晶體結構，揭示其結構特征。本書為讀者深入解釋了如何借助X射線衍射和透射電子顯微鏡進行晶體結構分析。本書主要內容如下：晶體學基礎；材料的X射線衍射，包括幾何原理、X射線衍射強度以及實驗方法；材料的透射電子顯微技術，包括原子散射因子、電子衍射和相位對比；討論HRTEM在材料研究領域的運用；XRD與TEM實操相關概念解釋。本書分三大部分全面詳細地介紹了晶體學、X射線衍射以及投射電子顯微學方面的重要概念、原理和相關運算，并結合作者豐富的教學經驗，輔以大量示例及幫助讀者更好地理解。同時，本書對應用物理學、化學工程等相關領域的交叉學科研究也同樣具有參考意義。