本書從數(shù)字集成電路測(cè)試與可測(cè)性設(shè)計(jì)的基本概念出發(fā)，系統(tǒng)介紹了數(shù)字集成電路測(cè)試的概念、原理及方法。主要內(nèi)容包括：數(shù)字集成電路測(cè)試基礎(chǔ)、測(cè)試向量生成、可測(cè)性設(shè)計(jì)與掃描測(cè)試、邊界掃描測(cè)試、內(nèi)建自測(cè)試、存儲(chǔ)器測(cè)試，以及可測(cè)性設(shè)計(jì)案例及分析。本書將理論與實(shí)踐相融合，深入淺出地進(jìn)行理論講解，并輔以實(shí)例解析，幫助讀者從入門級(jí)別的理解到信手拈來的精通，實(shí)現(xiàn)從理論知識(shí)到工程應(yīng)用的有效過渡。本書可作為高等院校集成電路設(shè)計(jì)與集成系統(tǒng)等專業(yè)的教材，也可供集成電路行業(yè)的工程技術(shù)人員參考。