本書主要內(nèi)容包括：基本概念、IEEE1149.X標(biāo)準(zhǔn)、單板級(jí)可測(cè)性設(shè)計(jì)、邊界掃描測(cè)試應(yīng)用、內(nèi)建自測(cè)試技術(shù)、處理器測(cè)試技術(shù)、嵌入式測(cè)試技術(shù)。 本書適合于相關(guān)領(lǐng)域工程技術(shù)人員閱讀，也可作為高等院校電子信息、通信、測(cè)試測(cè)控、自動(dòng)化等專業(yè)高年級(jí)學(xué)生或研究生的教學(xué)參考書。