本書主要涉及在納米工藝下較為嚴(yán)重的晶體管老化效應(yīng)——負(fù)偏置溫度不穩(wěn)定性和制造過程中引起的參數(shù)偏差。介紹了參數(shù)偏差效應(yīng)產(chǎn)生的物理機(jī)制及對(duì)電路服役期可靠性的影響，并提出了從電路級(jí)到系統(tǒng)級(jí)的相應(yīng)的分析、預(yù)測(cè)和優(yōu)化方法。